(寿命测试的图片：)


(寿命测试的描述：)
寿命试验是研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一，它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化规律。通过寿命试验，可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。
 
寿命测试相关的测试项目：
1、早期失效等级测试
早期失效等级测试（早夭期失效筛选）----ELFR（EFR）
(1)目的: 评估工艺的稳定性，加速缺陷失效率，筛选或剔除那些勉强合格的器件。
(2)测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试
(3)试验原理：有缺陷的电子元器件，在规定的温度下储存或工作一段较长的时间。若试验前后其有关电性能的变化超过允许值，则该器件为不合格品，应被剔除掉。
(4)失效机制：材料或工艺的缺陷，包括诸如氧化层缺陷，金属刻镀，离子玷污等由于生产造成的失效。
(5)具体的测试条件和估算结果可参考以下标准：MIT-STD-883、JESD22-A108、JESD-47、AEC-Q100等
 
2、高温工作寿命试验
高温工作寿命试验（老化试验）HTOL(OLT)、高温顺向偏压试验（HTGB)、高温逆向偏压试验（HTRB)、高温偏压寿命试验（BLT)
(1)试验目的：评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力。
(2)测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试
(3)试验原理：高温，高工作电压条件下加速其失效进程。
(4)失效机制：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等
(5)参考标准：MIT-STD-883、JESD22-A108、JESD-47、AEC-Q100、AEC-Q101等
 
3、间歇运行寿命试验-IOL
(1)试验目的：评价产品的可靠性水平；验证产品的环境适应能力；剔除早期失效产品或选择具有一定可靠性水平的产品；了解产品失效时间的规律及其分布参数，作为设计、分析、生产及使用必要的资讯。
(2)试验原理：对电路间断地施加应力，使器件受到“开”和“关”之间的电应力周期变化，来加速电路内部物理、化学反应过程，而这种周期变化的电应力又导致器件和外壳温度的周期变化，最终得到测定微电子器件的典型失效率或者证实器件的质量或可靠性。
(3)参考标准：MIT-STD-750、AEC-Q101等